Идентификация SPICE параметров по вольтамперным характеристикам

Статические SPICE параметры входят в математические модели компонентов, используемых при проектировании электронных устройств. Измерение SPICE параметров по тестовым структурам или их расчет по участкам вольтамперных характеристик (ВАХ) может приводить к большим погрешностям, не позволяет определять все параметры, индивидуальные параметры приборов или выполнять статистический анализ. В данной работе предлагается метод идентификации SPICE параметров, позволяющий оценивать все статические SPICE параметры и их ковариационные матрицы.Метод основан на построении многооткликовой модели, описывающей семейство ВАХ. Задача расчета SPICE параметров в этом случае состоит в идентификации параметров модели ВАХ по экспериментальным данным. Разработана методика идентификации SPICE параметров полупроводниковых приборов (диодов и транзисторов) и интегрированных структур, позволяющая определять все SPICE параметры, существенно повысить точность их оценивания и обеспечить получение ковариационных матриц оценок этих параметров.Книга предназначена как для инженеров разработчиков, так и для потребителей полупроводниковых и микроэлектронных приборов.