LAP Lambert Academic Publishing ( 2011-05-12 )
€ 59,00
В современном полупроводниковом производстве технологические процессы характеризуются малыми длинами и короткими временами, что зачастую приводит к возникновению неравновесных условий, таких как нарушение локальной электронейтральности (ЭН), отклонение от равновесия в квазихимических реакциях между примесями, дефектами и их комплексами, образование неравновесных концентраций собственных точечных дефектов (СТД), контролирующих диффузию. В работе представлены результаты исследования совместной диффузии ионизованных примесей при нарушении локальной ЭН; диффузии примеси в условиях нарушения равновесия по СТД; геттерирования загрязняющей примеси однородно и неоднородно легированными слоями, а также геттерирования примеси, диффундирующей по механизму вытеснения. Авторами подробно рассмотрены существующие математические модели диффузии и методы решения диффузионных уравнений. Книга будет полезна как студентам и аспирантам так и профессионалам в области полупроводникового производства при разработке программ физико-технологического моделирования, а также при расчёте технологических процессов изготовления ИМС или силовых приборов.
Book Details: |
|
ISBN-13: |
978-3-8433-1456-5 |
ISBN-10: |
384331456X |
EAN: |
9783843314565 |
Book language: |
Russian |
By (author) : |
Артём Криворучко |
Number of pages: |
124 |
Published on: |
2011-05-12 |
Category: |
Electronics, electro-technology, communications technology |