Адаптивные нейросетевые алгоритмы диагностики материалов, оборудования

Монография посвящена новому поколению высококачественных автоматизированных систем неразрушающего контроля материалов, диагностики неисправностей навигационного оборудования и радиоэлектронной аппаратуры на основе комплексирования нейросетевых алгоритмов и методов нечеткой логики, позволяющих работать с нелинейными и неустойчивыми динамическими объектами управления, подверженными влиянию случайных физических полей. Разработанная на основе нейро-нечетких портретов аналитическая модель диагностики отказов позволяет системе управления отслеживать текущую технологическую ситуацию, прогнозировать ее будущее состояние и формировать адекватные ей управляющие воздействия, эффективно компенсирующие неконтролируемые возмущения и случайные помехи. Монография обобщает цикл НИР Национального исследовательского Томского государственного университета в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы» по теме: «Разработка и организация опытного производства рентгеновского микротомографа для исследования органических и неорганических объектов», Г./К. №16.523.11.3009.