LAP Lambert Academic Publishing ( 2011-06-09 )
€ 79,00
Предлагаемая читателю книга представляет цикл исследований автора, посвящённых низкочастотным шумам в наноразмерных полупроводниковых структурах. В низкочастотных флуктуациях, по-видимому, находят свое отражение электронные и атомные процессы в веществе, характеризующие особенности микроструктуры твердых тел. Это дает возможность использовать низкочастотный шум для получения информации о качестве и надежности полупроводниковых структур. В первой главе в качестве источников низкочастотного шума рассматриваются бистабильные точечные дефекты, приводящие к флуктуациям электрофизических параметров полупроводникового материала. Во второй главе приведены теоретические и экспериментальные сведения об источниках шума в современных светоизлучающих приборах: лазерах на квантовых ямах и светодиодах на квантовых ямах и квантовых точках. В третьей главе проводится детальный анализ шумов наноразмерных полупроводниковых диодов Шоттки с дельта– легированием. Книга предназначена для широкого круга научно-технических работников, студентов старших курсов и аспирантов, интересующихся проблемами шумов в полупроводниковых приборах современной радиоэлектроники.
Book Details: |
|
ISBN-13: |
978-3-8433-2204-1 |
ISBN-10: |
384332204X |
EAN: |
9783843322041 |
Book language: |
Russian |
By (author) : |
Алексей Клюев |
Number of pages: |
208 |
Published on: |
2011-06-09 |
Category: |
Physics, astronomy |