Расширенный поиск патентов в базах ВОИС

Рассмотрено выполнение патентных исследований с использованием Интернет баз данных Всемирной организации интеллектуальной собственности (ВОИС). Приведены основные сведения по процедурам поиска в патентных базах ВОИС и выявлены ошибки в программном обеспечении и наполнении баз. Выполнен анализ возможных причин появления ошибок и предложены пути их устранения на основе разработанной автором системы "ПАТЕНТ-АНАЛИТИК", обеспечивающей выполнение всего цикла патентных исследований от составления регламента поиска до передачи в приложения отчета о выполнении. В состав "ПАТЕНТ-АНАЛИТИК" входят программы для поиска патентных документов в базах ВОИС, их обработки и экспорта в локальные базы в СУБД PCBIRS, служащей средой функционирования "ПАТЕНТ-АНАЛИТИК". Особенностью "ПАТЕНТ-АНАЛИТИК" является встроенный патентный классификатор (МПК-2016), хранение двуязычных (оригинал/перевод) баз и поиск по ним, интерактивные диаграммы и многоуровневые каталоги запросов, а также возможность наращивать функционал и передавать данные в приложения (WORD, EXCEL). Все виды работ рассмотрены на примерах. Предназначена для работников патентных служб, разработчиков новой техники и студентов.