Спектроскопия в ближней ИК-области

В монографии рассмотрено современное состояние спектроскопии в ближней инфракрасной области – одного из новейших аналитических методов, развитие которого стало возможным только на основе достижений информационных технологий, и который стал официально принятым методом для контроля качества самых разных объектов во многих странах мира. Описаны принципы работы и основные узлы приборов, основанных на принципах БИК-спектроскопии (БИК-анализаторов), но различающихся по используемой технологии (работающие в режиме пропускания и диффузного отражения, сканирующие и фильтровые, и т.д.), области применения, способу использования (лабораторные, поточные, переносные), требованиям к подготовке пробы, а также вопросы программного обеспечения БИК-анализаторов, включая проблемы построения и переноса калибровок. Проанализированы достоинства, ограничения и перспективы развития метода. Представлены основные компании-производители и модели БИК-анализаторов, предлагаемые на российском рынке. Монография ориентирована на исследователей и специалистов, занимающихся вопросами аналитического контроля различных продуктов и материалов, а также может служить учебным пособием для студентов.