Аморфные полупроводники

Настоящая монография посвящена изучению электрофизических и структурных свойств аморфных полупроводников. Физические методы исследования, как ядерно-гамма резонансная спектроскопия (Мессбауэровская спектроскопия), фотоэлектронная спектроскопия, ИК-спектроскопия, эффект Холла являются самыми мощными методами исследования полупроводниковых материалов. В данной работе излагаются основы метода ядерно-гамма резонансной спектроскопии, обсуждаются параметры мессбауэровских спектров и методики измерения спектров. Изложенный материал может служить справочным пособием при выборе оптимальных условий проведения исследований в физике полупроводников с использованием эффекта Мессбауэра и при интерпретации экспериментальных данных. Рассмотрены основные направления использования эффекта Мессбауэра в физике полупроводников – определение электронных конфигураций атомов в полупроводниках, изучение состояния примесных атомов в кристаллических и аморфных полупроводниках, структуры ближнего порядка стеклообразных полупроводников, исследование радиационных дефектов в над- и подпороговой областях.