LAP Lambert Academic Publishing ( 06.04.2012 )
€ 79,00
В монографии детально рассмотрена система тестового контроля качества технологического процесса изготовления микросхем, процедура обработки данных и моделирования выхода годных кристаллов ИМС. Особое значение уделено методам оценки надежности кристаллов микросхем в составе пластин на этапе технологического процесса изготовления ИМС, позволяющих оптимизировать процессы и обеспечить высокий уровень надежности корпусированных микросхем. Приведены результаты исследований надёжности многослойных тонкоплёночных систем металлизации, конкретные результаты практического применения ряда методов выявления и отбраковки корпусированных микросхем со скрытыми дефектами: анализ динамического тока потребления, воздействия импульсов статического электричества, термоциклирования, повышенного напряжения питания. Книга предназначена для специалистов электронной и радиоэлектронной промышленности, а также студентов и аспирантов вузов соответствующей специальности.
Детали книги: |
|
ISBN-13: |
978-3-8484-3107-6 |
ISBN-10: |
3848431076 |
EAN: |
9783848431076 |
Язык книги: |
Russian |
By (author) : |
Григорий Чигирь |
Количество страниц: |
248 |
Опубликовано: |
06.04.2012 |
Категория: |
Электроника, электротехника, коммуникационные технологии |