Реальная структура тонких кристаллов селена

В монографии представлены результаты исследований реальной структуры кристаллов, растущих в тонких аморфных пленках селена. Реальная структура тонких кристаллов селена характеризуется ротационным искривлением решетки, в общем случае вокруг трех взаимно перпендикулярных направлений, отличной от нуля римановой кривизной решетки и наличием межблочных границ с изменяющимися вдоль границ кристаллогеометрическими параметрами. Разработана методика определения римановой кривизны решетки тонких кристаллов. Приведены примеры применения данной методики для расчета римановой кривизны решетки тонких кристаллов селена. Обнаружен эффект изменения знака вектора разориентировки вдоль межблочных границ, сформировавшихся в кристаллах селена в процессе роста в тонкой аморфной пленке. Эффект изменения знака вектора разориентировки обнаружен в тонких кристаллах селена как для границ вышедших на фронт роста кристалла, так и для оборванных границ.