Яркостный и частотный анализ изображений дефектов структуры

В монографии рассматривается цифровая обработка топографических и поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллов, основанная на анализе их яркостных и частотных характеристик. Приводятся методики, алгоритмы и программы цифровой обработки, примеры применения и сравнение их эффективности при устранении основных зашумляющих факторов, затрудняющих расшифровку экспериментального контраста и надёжную идентификацию дефектов структуры. Показаны преимущества дискретного вейвлет-анализа при устранении слабого контраста, фоновой неоднородности и зернистости изображений, а также использования при цифровой обработке изображений с расширенным динамическим диапазоном (HDR-изображений). Цифровая обработка позволяет выявить тонкие особенности контраста и получить новую качественную и количественную информацию о дефектах структуры, повысить информативность диагностических методов. Предназначается для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области физического материаловедения, кристаллофизики, технологии материалов электронной техники, цифровой обработки сигналов и изображений.