LAP Lambert Academic Publishing ( 2013-01-07 )
€ 79,00
Монография посвящена новому поколению высококачественных автоматизированных систем неразрушающего контроля материалов, диагностики неисправностей навигационного оборудования и радиоэлектронной аппаратуры на основе комплексирования нейросетевых алгоритмов и методов нечеткой логики, позволяющих работать с нелинейными и неустойчивыми динамическими объектами управления, подверженными влиянию случайных физических полей. Разработанная на основе нейро-нечетких портретов аналитическая модель диагностики отказов позволяет системе управления отслеживать текущую технологическую ситуацию, прогнозировать ее будущее состояние и формировать адекватные ей управляющие воздействия, эффективно компенсирующие неконтролируемые возмущения и случайные помехи. Монография обобщает цикл НИР Национального исследовательского Томского государственного университета в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2007-2013 годы» по теме: «Разработка и организация опытного производства рентгеновского микротомографа для исследования органических и неорганических объектов», Г./К. №16.523.11.3009.
Book Details: |
|
ISBN-13: |
978-3-659-30508-5 |
ISBN-10: |
3659305081 |
EAN: |
9783659305085 |
Book language: |
Russian |
By (author) : |
Владимир Иванович Сырямкин |
Number of pages: |
276 |
Published on: |
2013-01-07 |
Category: |
Monographies |