Влияние внутренних электрических и упругих полей моно-, микро- и

Монография М.Е. Зобова и Е.М. Зобова содержит обширный систематизированный материал, касающийся природы, характеристических параметров и особенностей проявления электронных центров прилипания и рекомбинации в ZnS, ZnSe, ZnO. Подробно рассмотрены неравновесные явления в этих широкозонных материалах, которые отражают особенности влияния внутренних электрических и упругих полей, созданных в моно-, микро- и нанокристаллах макроскопическими дефектами, на процессы прилипания, генерации и рекомбинации носителей заряда. Продемонстрированы возможности управления внутренними электрическими и упругими полями внешними воздействиями (электрическое поле, одноосное давление, ультразвук). Книга будет полезна многочисленным специалистам – физикам, работающим в области исследований глубоких центров в полупроводниках и их технических применений в оптоэлектронике, а также аспирантам и студентам, специализирующихся в этой области.